Wednesday, 22. February 2012
 

4th European-American Workshop on Reliability of NDE

BAM – Berlin, Germany – June 24th – 26th, 2009

Scientific Advisory Committee
  • Christina Müller, Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin, Germany, (Head of SAC)
  • Gerd Ahlers, E.ON, Hannover, Germany 
  • Philippe Benoist, CEA/LIST/SYSSC, Gif sur Yvette Cedex, France
  • Anton Erhard, Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin, Germany
  • Uwe Ewert, Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin, Germany
  • Babette Fahlbruch, TÜV NORD, Hamburg, Germany 
  • Jay Fisher, Southwest Research Insititute, St. Antonio, USA
  • Heinrich Heidt, Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin, Germany
  • Marc Kreutzbruck, Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin, Germany
  • Lloyd Schaefer, Rolls Royce Berlin, Germany
  • Greg Selby, EPRI, Charlotte, USA
  • Ulf Schnars, Airbus Deutschland, Bremen, Germany
  • Detlef Schombach, TÜV NORD, Hamburg, Germany 
  • Jörg Völker, Siemens, Berlin, Germany
  • John Whittle, John Whittle & Associates, Cheshire, United Kingdom
  • Hermann Wüstenberg, Private Consultant (BAM), Germany
  

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